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Chileno asume área de centro mundial de difracción de rayos X

Chileno asume área de centro mundial de difracción de rayos X

Cooperativa Ciencia,

Tiempo de lectura: 2 minutos Dr. Claudio Aguilar asumió como director del área de Metales y Aleaciones del International Centre for Diffraction Data (ICDD), cuya principal misión es preservar y entregar datos de calidad a la comunidad mundial para el desarrollo tecnológico e investigación científica.

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Por primera vez un chileno se convierte en director de uno de los subcomités del Centro Internacional de Datos de Difracción (ICDD), entidad líder en la materia y cuya sede se encuentra en Filadelfia, Estados Unidos. Se trata del académico de la Universidad Técnica Federico Santa María, Dr. Claudio Aguilar, quien recibió la invitación de parte del director ejecutivo del ICDD, Tom Blanton, en virtud de su trayectoria profesional y científica, sus investigaciones y publicaciones.

El Dr. Claudio Aguilar fue nombrado director del comité de Metales y Aleaciones y su objetivo es velar que los datos de los patrones de la difracción de polvo estén en orden y actualizados, asegurando que la información esté disponible para investigaciones y avances científicos y tecnológicos de todo el mundo.

El académico indicó que “parte de mi trabajo es organizar el comité con sus miembros que llegan a cerca de 50, efectuar reuniones periódicas, verificar que todos los datos se encuentren actualizados, enfocándose en mantener los estándares de calidad y en ampliar la cobertura y utilidad de esta información”.

Huella digital

 El centro cuenta con la participación de más de 300 científicos de todo el mundo, tanto del ámbito educacional, gubernamental e industrial y se estructura en una junta directiva, comités y subcomités. El Dr. Claudio Aguilar indicó que “es una gran responsabilidad por cuanto en el ICDD no solo represento a Chile, sino que también a la USM, por lo que mi labor irá de la mano del compromiso y la rigurosidad en todos los procesos que deben llevar a cabo”.

El Dr. Aguilar explica que la difracción de rayos X es un proceso donde se crea una caracterización de materiales, es decir, “se logra una especie de huella digital de los metales y aleaciones y esta información sirve para desarrollar nuevos materiales”.

En definitiva, es una técnica de caracterización básica de todo tipo de material con estructura cristalina como metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, cerámicas, por nombrar algunos. Es un método no destructivo, permitiendo la recuperación del material estudiado.

Fuente: USM


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